اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1963 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 323 کاربر
- تمام بازدید‌ها: 22513290 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 14885 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
جلد 21 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و یکمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال21 صفحات 96-93 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
Rauofi D, Jamshidi A. Optical properties of Indium Tin Oxide thin films using a Kramers-Kronig method. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2015; 21 :93-96
URL: http://opsi.ir/article-1-468-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-468-fa.html
رئوفی داود، جمشیدی علی. بررسی خواص نوری لایه های نازک اکسید ایندیوم آلاییده با قلع با استفاده از روش کرامرز-کرونیگ. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1393; 21 () :93-96
داود رئوفی1 
، علی جمشیدی*1
، علی جمشیدی*1
1- دانشگاه بوعلی سینا دانشکده علوم
چکیده: (5159 مشاهده)
اندازه گیری ضرایب اپتیکی (ضرایب شکست و خاموشی) از جمله مباحث مهم لایه های نازک است. روشهای متعددی وجود دارند که می توان بوسیله آنها ضرایب اپتیکی را اندازه گیری کرد. از جمله این روش ها می توان روش کرامرز-کرونیگ را نام برد. در این مقاله با استفاده از این روش ضرایب اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم آلاییده با قلع که در ضخامت های 134،145و290 نانومتر به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیر لایه شیشه ای و در شرایط یکسان تهیه شده اند را بررسی می کنیم.
ارسال پیام به نویسنده مسئول
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
