[صفحه اصلی ]   [Archive] [ English ]  
:: جلد 21 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و یکمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران ::
ICOP & ICPET سال21 صفحات 93-96 برگشت به فهرست نسخه ها
بررسی خواص نوری لایه های نازک اکسید ایندیوم آلاییده با قلع با استفاده از روش کرامرز-کرونیگ
دکتر داود رئوفی1، آقای علی جمشیدی* 2
1- دانشيار دانشگاه بوعلی سینا دانشکده علوم
2- دانشجو دانشگاه بوعلی سینا دانشکده علوم
چکیده:   (2170 مشاهده)
اندازه گیری ضرایب اپتیکی (ضرایب شکست و خاموشی) از جمله مباحث مهم لایه های نازک است. روشهای متعددی وجود دارند که می توان بوسیله آنها ضرایب اپتیکی را اندازه گیری کرد. از جمله این روش ها می توان روش کرامرز-کرونیگ را نام برد. در این مقاله با استفاده از این روش ضرایب اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم آلاییده با قلع که در ضخامت های 134،145و290 نانومتر به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیر لایه شیشه ای و در شرایط یکسان تهیه شده اند را بررسی می کنیم.
واژه‌های کلیدی: کرامرز-کرونیک، ضرایب اپتیکی، اکسید ایندیم
متن کامل [PDF 411 kb]   (2363 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی
ارسال پیام به نویسنده مسئول

ارسال نظر درباره این مقاله
نام کاربری یا پست الکترونیک شما:

کد امنیتی را در کادر بنویسید >


XML   English Abstract   Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Rauofi D, Jamshidi A. Optical properties of Indium Tin Oxide thin films using a Kramers-Kronig method. ICOP & ICPET. 2015; 21 :93-96
URL: http://opsi.ir/article-1-468-fa.html

رئوفی داود، جمشیدی علی. بررسی خواص نوری لایه های نازک اکسید ایندیوم آلاییده با قلع با استفاده از روش کرامرز-کرونیگ. کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و کنفرانس مهندسی و فناوری فوتونیک ایران. 1393; 21 () :93-96

URL: http://opsi.ir/article-1-468-fa.html



جلد 21 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و یکمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران برگشت به فهرست نسخه ها
انجمن اپتیک و فوتونیک ایران Optics and Photonics Society of Iran
Persian site map - English site map - Created in 0.05 seconds with 30 queries by YEKTAWEB 3705