حمایت از انجمن


برای حمایت لطفا روی بخش پایین کلیک کنید.
 
حمایت مالی از انجمن اپتیک و فوتونیک ایران
جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال20 صفحات 1652-1649 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Pourali E, Daraie M, Asadi R. A Proposal for Design, Simulation and formation of a 0.45 μm thick Oxide on a Silicon Wafer. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2014; 20 :1649-1652
URL: http://opsi.ir/article-1-100-fa.html
Pourali Elyar، Daraie Mohammad، Asadi Ramin. A Proposal for Design, Simulation and formation of a 0.45 μm thick Oxide on a Silicon Wafer. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1392; 20 () :1649-1652

URL: http://opsi.ir/article-1-100-fa.html


1- Tarbiat Modares University
2- Pyame-Noor University
3- Azad University of Damavand
چکیده:   (3690 مشاهده)
In this paper we propose a method for formation of a 0.45 μm thick oxide on a 4 inch silicon wafer. We show that the simulation results are in very good agreement with practical process. We have used Athena TCAD package, Centrotherm oxidation tubes and optical microscope and α-step thickness measuring devices to simulate, fabricate and testing of the oxide.
واژه‌های کلیدی: Oxidation، silicon
متن کامل [PDF 699 kb]   (1078 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

ارسال پیام به نویسنده مسئول


بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به انجمن اپتیک و فوتونیک ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2024 All Rights Reserved | Optics and Photonics Society of Iran

Designed & Developed by : Yektaweb