اشتراک در خبرنامه

لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.


آمار سایت

  • کل کاربران ثبت شده: 1961 کاربر
  • کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
  • میهمانان در حال بازدید: 937 کاربر
  • تمام بازدید‌ها: 21753911 بازدید
  • بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 12062 بازدید

کنفرانس های انجمن 



 

استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.

جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال20 صفحات 128-125 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Physical Investigation of the Potential of Vis/NIR Spectroscopy for Fast and Non-destructive Detection of Pesticide Residues in Agricultural Products . ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2014; 20 :125-128
URL: http://opsi.ir/article-1-98-fa.html
جمشیدی بهاره، مهاجرانی عزالدین، مینایی سعید، جمشیدی جمشید، شریفی احمد. بررسی فیزیکی توانایی اسپکتروسکوپی Vis/NIR برای تشخیص سریع و غیر مخرب باقی‌مانده سموم در محصولات کشاورزی . مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1392; 20 () :125-128

URL: http://opsi.ir/article-1-98-fa.html


1- موسسه تحقیقات فنی و مهندسی کشاورزی
2- پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی
3- دانشکده کشاورزی، دانشگاه تربیت مدرس
4- شرکت تولیدی صنعتی ظریف مصور
چکیده:   (6703 مشاهده)
در این پژوهش توانایی روش اسپکتروسکوپی مرئی/فروسرخ نزدیک (Vis/NIR) برای تشخیص غیر مخرب باقی‌مانده سموم در محصولات کشاورزی (مطالعه موردی روی سم دیازینون در محصول خیار گلخانه‌ای) به صورت فیزیکی بررسی شد. برای این منظور، طیف‌های‌ Vis/NIR سم دیازینون و نمونه‌های خیار فاقد و دارای غلظت‌های مختلف سم تحلیل و تفسیر شدند. نتایج نشان داد که روش اسپکتروسکوپی Vis/NIR از نظر فیزیکی توانایی تشخیص باقی‌مانده سم در محصول را دارد و می‌تواند در ترکیب با روش‌های شیمی‌سنجی به منظور تشخیص سریع و غیر مخرب باقی‌مانده سموم در محصولات کشاورزی به‌کار گرفته شود.
متن کامل [PDF 348 kb]   (1783 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

ارسال پیام به نویسنده مسئول


بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.

کارگاه‌ها و مدارس

(پایان ثبت نام)



 

(پایان ثبت نام)


کارگاه‌های مرتبط با توسعه
کسب و کار فوتونیک
اردیبهشت و خرداد ۱۴۰۴
(در حال ثبت نام)



 

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به انجمن اپتیک و فوتونیک ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2025 All Rights Reserved | Optics and Photonics Society of Iran

Designed & Developed by : Yektaweb