جلد 21 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و یکمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET سال21 صفحات 73-76 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Jamshidi B, Mohajerani E, Jamshidi J, Minaei S, Sharifi A. Non-destructive Measurement of Pesticide Residues in Agricultural Products using Vis/NIR Spectroscopy and Chemometrics . ICOP & ICPET. 2015; 21 :73-76
URL: http://opsi.ir/article-1-464-fa.html
جمشیدی بهاره، مهاجرانی عزالدین، جمشیدی جمشید، مینایی سعید، شریفی احمد. اندازه‌گیری غیرمخرب باقی‌مانده سموم در محصولات کشاورزی با اسپکتروسکوپی Vis/NIR و روش‌های شیمی‌سنجی . کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و کنفرانس مهندسی و فناوری فوتونیک ایران. 1393; 21 () :73-76

URL: http://opsi.ir/article-1-464-fa.html


1- موسسه تحقیقات فنی و مهندسی کشاورزی
2- دانشگاه شهید بهشتی
3- شرکت ظریف مصور
4- دانشگاه تربیت مدرس
چکیده:   (3485 مشاهده)
در این پژوهش، امکان اندازه‌گیری باقی‌مانده سموم در محصولات کشاورزی با کاربرد اسپکتروسکوپی مرئی/فروسرخ نزدیک (Vis/NIR) در ترکیب با روش‌های شیمی‌سنجی بررسی شد (مطالعه موردی روی سم دیازینون در محصول خیار گلخانه‌ای). مدل‌های حداقل مربعات جزئی (PLS) بر پایه اندازه‌گیری‌های شیمیایی مرجع و اطلاعات طیفی نمونه‌ها در محدوده 450 تا 1000 نانومتر پس از اجرای روش‌های مختلف پیش‌پردازش تدوین شدند. نتایج نشان داد که اسپکتروسکوپی Vis/NIR در ترکیب با روش‌های شیمی‌سنجی به طور رضایت‌بخش قادر به اندازه‌گیری سریع و غیرمخرب باقی‌مانده سم دیازینون در محصول خیار است و بهترین نتایج پیش‌بینی با مدل PLS تدوین‌شده بر پایه ترکیب پیش‌پردازش‌های تصحیح پراکنش افزاینده و مشتق اول (MSC+D1) به دست آمد (rcv=0.91, SECV=3.22).
متن کامل [PDF 314 kb]   (3091 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

ارسال پیام به نویسنده مسئول


کلیه حقوق این وب سایت متعلق به انجمن اپتیک و فوتونیک ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2020 All Rights Reserved | Optics and Photonics Society of Iran

Designed & Developed by : Yektaweb