[صفحه اصلی ]   [Archive] [ English ]  
:: جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران ::
ICOP & ICPET سال20 صفحات 581-584 برگشت به فهرست نسخه ها
لایه نشانی کربن الماس-گون به روش انباشت بخار فیزیکی
مهندس حمید نظام دوست* 1، دکتر سلیمه کیمیاگر1، مهندس محمد جان نثاری2
1- دانشگاه آزاد اسلامی تهران مرکز
2- دانشگاه یزد
چکیده:   (3343 مشاهده)

دراین پژوهش کربن­ به روش بخارفیزیکی بر روی زیرلایه سولفیدروی و لایه واسط Y2O3 انباشت شد، تأثیر نرخ انباشت در عبور امواج فروسرخ نمونه­های تولید شده با طیف سنجی FTIR و رامان مورد بررسی قرار گرفت. مشاهده شد که تغییر مقدار نرخ انباشت، لایه­های کربن الماس-گون با ساختارهای گوناگونی را پدید می­آورد. نمونه­های تولید شده با نرخ انباشت 30 آنگسترم برثانیه و دمای 100 درجه سانتی­گراد، عبور و مقدار هیبریداسیون sp3 بیشتری دارند که 32 درصد اندازه­گیری شد. این نمونه­ها همچنین از کیفیت مکانیکی بهتری براساس استاندارد MIL-48616 برخوردار بودند.

واژه‌های کلیدی: کربن الماس-گون، لایه نشانی، محدوده 7-13 میکرومتر، ‌ PVD
متن کامل [PDF 589 kb]   (792 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی
ارسال پیام به نویسنده مسئول

ارسال نظر درباره این مقاله
نام کاربری یا پست الکترونیک شما:

CAPTCHA code


XML   English Abstract   Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Nezamdoost H, Kimiagar S, jannesari M. Deposition of Diamond-like carbon utilizing Physical vapor deposition. ICOP & ICPET. 2014; 20 :581-584
URL: http://opsi.ir/article-1-269-fa.html

نظام دوست حمید، کیمیاگر سلیمه، جان نثاری محمد. لایه نشانی کربن الماس-گون به روش انباشت بخار فیزیکی. کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و کنفرانس مهندسی و فناوری فوتونیک ایران. 1392; 20 () :581-584

URL: http://opsi.ir/article-1-269-fa.html



جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران برگشت به فهرست نسخه ها
انجمن اپتیک و فوتونیک ایران Optics and Photonics Society of Iran
Persian site map - English site map - Created in 0.05 seconds with 30 queries by YEKTAWEB 3781