اشتراک در خبرنامه

لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.


آمار سایت

  • کل کاربران ثبت شده: 1961 کاربر
  • کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
  • میهمانان در حال بازدید: 291 کاربر
  • تمام بازدید‌ها: 21760140 بازدید
  • بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 12815 بازدید

کنفرانس های انجمن 



 

استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.

جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال20 صفحات 544-541 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

falahatpour S, Behjat A, Mardiha M. An exact method for determination of optical constants of HfO2 thin film in the near-infrared region . ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2014; 20 :541-544
URL: http://opsi.ir/article-1-253-fa.html
فلاحت پور سمانه، بهجت عباس، مردیها مهدی. یک روش دقیق برای تعیین ثابت های اپتیکی فیلم نازک اکسید هافنیوم در ناحیه مادون قرمزنزدیک. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1392; 20 () :541-544

URL: http://opsi.ir/article-1-253-fa.html


چکیده:   (6161 مشاهده)
روش‌های متعددی برای تعیین پارامترهای اپتیکی لایه‌های نازک وجود دارد که از جمله می‌توان به روش‌های بهینه‌سازی اشاره کرد. ابتدا یک لایه‌نشانی عملی متشکل از لایه نازک اکسید هافنیوم(HfO2) روی بستره ژرمانیوم بروش تبخیر حرارتی در خلأ انجام شد. سپس طیف تراگسیل نمونه در ناحیه مادون قرمز اندازه‌گیری شد. پس از مطالعات دقیق و مفصل، یک برنامه کامپیوتری در MATLAB برای روش بهینه‌سازی الگوریتم ژنتیک(GA) نوشتیم و نتایج آن‌را توسط داده‌های دقیق حاصل از نرم-افزارEssential Macleod امتحان کردیم. با استفاده از این روش، ضرایب سلمایرلایه بهینه شدند و بدنبال آن توانستیم ضرایب شکست و خاموشی نمونه را با دقت خوبی در ناحیه مادون قرمز استخراج کنیم. با مقایسه این نتایج و مقادیرحاصل از کار محققان قبلی دریافتیم که الگوریتم ژنتیک یک روش نسبتاً دقیق برای تعیین پارامترهای لایه نازک می‌باشد.
متن کامل [PDF 614 kb]   (1805 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

ارسال پیام به نویسنده مسئول


بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.

کارگاه‌ها و مدارس

(پایان ثبت نام)



 

(پایان ثبت نام)


کارگاه‌های مرتبط با توسعه
کسب و کار فوتونیک
اردیبهشت و خرداد ۱۴۰۴
(در حال ثبت نام)



 

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به انجمن اپتیک و فوتونیک ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2025 All Rights Reserved | Optics and Photonics Society of Iran

Designed & Developed by : Yektaweb