اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1963 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 460 کاربر
- تمام بازدیدها: 22535465 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 12272 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
جلد 26 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و ششمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال26 صفحات 620-617 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:



Abbasi S, Jafarfard M R, Razzaghi D, Montazerolghaem M, Pazokian H. Characterization of laser backwriting process with different number of pulses and various laser fluences. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2020; 26 :617-620
URL: http://opsi.ir/article-1-2134-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-2134-fa.html
عباسی شبنم، جعفرفرد محمدرضا، رزاقی داوود، منتظرالقائم محسن، پازکیان هدیه. مشخصه یابی فرآیند laser backwriting با تغییر شاریدگی و تعداد پالس. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانسهای انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1398; 26 () :617-620
شبنم عباسی*1
، محمدرضا جعفرفرد1
، داوود رزاقی2
، محسن منتظرالقائم2
، هدیه پازکیان2










1- دانشگاه علم و صنعت ایران
2- پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای
2- پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای
چکیده: (1709 مشاهده)
در این مقاله به بررسی فرآیند laser backwriting پرداخته شده است. بدین منظور استیل به عنوان نمونهی هدف جهت کندگی و نفوذ یونها داخل زیرلایه کوارتز، توسط لیزر پالسی کیوسوئیچ شدهی Nd:YAG مورد تابش قرار گرفت. میکروکانالهای ایجاد شده طی بر هم کنش مواد کنده شده با زیرلایه کوارتز مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان میدهد عمق کانال به تعداد پالس و شاریدگیهای مختلف لیزر بستگی دارد . همچنین در یک شاریدگی و تعداد پالس آستانه پلاسمونهای سطحی شکل گرفته است. برای مشخص کردن میزان نفوذ یونها داخل کوارتز و جذب از طیفسنجی UV-Visible و برای اندازهگیری عمق کانال از پروفایلومتری سطح استفاده شده است.
بازنشر اطلاعات | |
![]() |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |