[صفحه اصلی ]   [Archive] [ English ]  
:: جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران ::
ICOP & ICPET سال20 صفحات 249-252 برگشت به فهرست نسخه ها
بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه‌های نازک CuFeO2 تهیه شده به روش محلول شیمیایی
حافظه ممقانی1، دکتر مجید قناعت شعار* 1
1- دانشگاه شهید بهشتی
چکیده:   (5003 مشاهده)
چکیده – لایه نازک CuFeO2 روی زیرلایه کوآرتز با استفاده از روش محلول شیمیایی و تکنیک لایه نشانی چرخشی تهیه شد و خواص ساختاری و الکترواپتیکی آن پس از بازپخت در گاز آرگون در دمای C‏ °750 مورد بررسی قرار گرفت .فازهای تشکیل شده با استفاده از پراش اشعه ایکس مشخص شدند. تراگسیل در بازه ی مرئی و گاف انرژی مستقیم CuFeO2 با استفاده از نتایج طیف تراگسیلی به ترتیب ٪55-30 وeV 3/2 بدست آمد. با استفاده از اندازه‌گیری اثر هال، رسانایی الکتریکی و چگالی حاملهای بار به ترتیب S/cm 2-10×87/3 وcm-3 1017×4/1 بدست آمد.
واژه‌های کلیدی: CuFeO2، لایه نازک، لایه نشانی محلول شیمیایی، نیمرساناهای اکسیدی شفاف
متن کامل [PDF 557 kb]   (1264 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی
ارسال پیام به نویسنده مسئول

ارسال نظر درباره این مقاله
نام کاربری یا پست الکترونیک شما:

CAPTCHA code


XML   English Abstract   Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

mamaghani H, ghanaatshoar M. Structural and optical properties of CuFeO2 thin films produced by chemical solution deposition. ICOP & ICPET. 2014; 20 :249-252
URL: http://opsi.ir/article-1-147-fa.html

ممقانی حافظه، قناعت شعار مجید. بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه‌های نازک CuFeO2 تهیه شده به روش محلول شیمیایی. کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و کنفرانس مهندسی و فناوری فوتونیک ایران. 1392; 20 () :249-252

URL: http://opsi.ir/article-1-147-fa.html



جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران برگشت به فهرست نسخه ها
انجمن اپتیک و فوتونیک ایران Optics and Photonics Society of Iran
Persian site map - English site map - Created in 0.07 seconds with 30 queries by YEKTAWEB 3781