حمایت از انجمن


برای حمایت لطفا روی بخش پایین کلیک کنید.
 
حمایت مالی از انجمن اپتیک و فوتونیک ایران
جلد 23 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و سومین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال23 صفحات 1004-1001 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Ashrafabadi S, Eshghi H. Optical Properties of Silicon Nanowires fabricated through 1-MACE . ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2017; 23 :1001-1004
URL: http://opsi.ir/article-1-1235-fa.html
اشرف آبادی سمیه، عشقی حسین. خواص اپتیکی نانو سیم های سیلیسیمی ساخته شده به روش 1-MACE . مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1395; 23 () :1001-1004

URL: http://opsi.ir/article-1-1235-fa.html


1- دانشگاه صنعتی شاهرود
چکیده:   (2395 مشاهده)

نانو سیم­های سیلیسیمی به روش سونش شیمیایی تک مرحله­ای در زمان­های متفاوت (80min و 60، 30)   تهیه شده اند. با توجه به تصاویر FESEM آرایه ­هایی از نانو سیم­ها به­صورت منظم، متراکم و عمود بر سطح تشکیل شده است. اگرچه با افزایش زمان سونش از 30 به 60 دقیقه طول نانوسیم­ها افزایش و قطر آنها کاهش یافته اما با ادامه فرایند تا 80 دقیقه از طول نانو سیم ها کاسته شده اند. با استفاده از طیف بازتاب و رابطه­ ی Kubelka-Munk گاف نواری اپتیکی نمونه­ ها محاسبه شدند. دریافتیم با افزایش زمان سونش گاف نواری از   eV 1/36 به eV 1/58 تحت تاثیر وقوع محدودیت کوانتومی افزایش یافته­ اند. این تغییرات می تواند در آشکارسازهای نوری مفید باشد.

واژه‌های کلیدی: خواص اپتیکی، گاف اپتیکی، SiNWs
متن کامل [PDF 851 kb]   (855 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

ارسال پیام به نویسنده مسئول


بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به انجمن اپتیک و فوتونیک ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2024 All Rights Reserved | Optics and Photonics Society of Iran

Designed & Developed by : Yektaweb