بررسی و مشخصه یابی لانتانوم آلومینات(LaAlO3)به عنوان لایه و یا بخشی از لایه های انتخابی به عنوان جاذب امواج در محدوده مایکروویو

پریشانی, مرضیه; بهشتی, معصومه; چراغی, اکبر; ملک فر, رسول

بخش‌های اصلی

شاخه‌ی صنعتی نور فناوران و شرکت های عضو

حمایت از انجمن اپتیک و فوتونیک

ارتباط انجمن اپتیک و فوتونیک

اشتراک در خبرنامه

لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.

دریافت آخرین شماره خبرنامه

آمار سایت

کل کاربران ثبت شده: 1970 کاربر
کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
میهمانان در حال بازدید: 218 کاربر
تمام بازدید‌ها: 24469720 بازدید
بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 20179 بازدید

کنفرانس های انجمن

همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1404
(در مرحله دریافت مقالات)

استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.

جلد 23 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و سومین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال23 صفحات 1028-1025 | برگشت به فهرست نسخه ها

Mendeley

Zotero

RefWorks

parishani M, beheshti M, cheraghi A, malekfar R. Investigation and characterization of lanthanum aluminate)LaAlO3( as a selective absorption layer or multilayer in the microwave region. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2017; 23 :1025-1028
URL: http://opsi.ir/article-1-1158-fa.html

پریشانی مرضیه، بهشتی معصومه، چراغی اکبر، ملک فر رسول. بررسی و مشخصه یابی لانتانوم آلومینات(LaAlO3)به عنوان لایه و یا بخشی از لایه های انتخابی به عنوان جاذب امواج در محدوده مایکروویو. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1395; 23 () :1025-1028

URL: http://opsi.ir/article-1-1158-fa.html

بررسی و مشخصه یابی لانتانوم آلومینات(LaAlO3)به عنوان لایه و یا بخشی از لایه های انتخابی به عنوان جاذب امواج در محدوده مایکروویو

مرضیه پریشانی^*¹

، معصومه بهشتی¹

، اکبر چراغی¹

، رسول ملک فر¹

1- دانشگاه تربیت مدرس

چکیده: (3024 مشاهده)

در این مقاله، بلورک های₃ LaAlOبا استفاده از روش تعامل حالت جامد وشوک حرارتی در آزمایشگاه تهیه شدند. به منطور شناسایی ترکیب و مدهای ارتعاشی نمونه، طیف سنجی انتقال فوریه مادون قرمز (FTIR) صورت پذیرفت. به منظور تشخیص فازهای بلورک های تولید شده الگوی پراش اشعه ایکس (XRD) و به منظور ریخت شناسی و دانه بندی ساختار تصویر FESEM نمونه مورد مطالعه قرار گرفت.مشخصه یابی های انجام گرفته تشکیل بلورکهایی با ابعاد دانه بندی درحدود 200nmبا ریخت شناسی مناسبو گروه های عاملی ذیربط را نشان می دهد

واژه‌های کلیدی: روش تعامل حالت جامد، روش شوک حرارتی، لانتانیومآلومینات، جذب ماکروویو، لایه نشانی بس لایه ای

متن کامل [PDF 729 kb] (1084 دریافت)

نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

ارسال پیام به نویسنده مسئول

بازنشر اطلاعات
	این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.