برقراری ارتباط
جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال20 صفحات 180-177 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
The Deposition and characterization of barium strontium titanate thin film by the pulsed laser deposition method. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2014; 20 :177-180
URL: http://opsi.ir/article-1-114-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-114-fa.html
کاظمی هاجر، عزیزی زهرا سادات، حمیدی سیده مهری، طهرانچی محمد مهدی، مظفری مرتضی. لایه نشانی و مشخصه یابی فیلم نازک باریم استرانتیم تیتانایت به روش لایه نشانی لیزر پالسی. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1392; 20 () :177-180
1- دانشگاه شهید بهشتی
2- پژوهشکده لیزر
3- دانشگاه اصفهان
2- پژوهشکده لیزر
3- دانشگاه اصفهان
چکیده: (6907 مشاهده)
فیلمهای نازک فرو الکتریک کاربرد وسیعی در قطعات میکروالکترونیکی دارند. در این قطعات وجود تابعیت غیر خطی ثابت دی -الکتریکی به میدان الکتریکی ضروری است. از جمله مواد فرو الکتریک مناسب، باریم استرانتیم تیتانایت است. در این جا باریم استرانتیم تیتانایت با ترکیب شیمیایی Ba5.0Sr5.0TiO3 به روش لایهنشانی لیزر پالسی بر روی زیرلایهی Pt/Ti/SiO2/Si لایه نشانی شده است. نتایج لایه نشانی از جمله خصوصیات ساختاری و مورفولوژی سطح فیلم، به ترتیب با پراش اشعهی ایکس ) XRD ( و میکروسکوپ نیروی اتمی ) AFM ( بررسی شده است.
واژه‌های کلیدی: باریم استرانتیم تیتانایت، لایه نشانی لیزر پالسی، پراش اشعه ایکس، میکروسکوپ نیروی اتمی
ارسال پیام به نویسنده مسئول
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
