اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1997 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 591 کاربر
- تمام بازدیدها: 26657781 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 22587 بازدید
کنفرانس های انجمن
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
URL: http://opsi.ir/article-1-954-fa.html
، عباس بهجت1
، محمدعلی صادق زاده1
، فاطمه میرجلیلی1
، حسین شیخی1
در این پژوهش، برای لایه نشانی پروسکایت، از روش لایه نشانی دومرحله ای استفاده شد. در مرحله ی اول، محلول سرب یدید به روش لایه-نشانی چرخشی بر روی لایه ی نانوساختار تیتانیوم دی اکسید قرار گرفت. در مرحله ی دوم، با روش لایه نشانی غوطه وری، محلول متیل آمونیوم یدید بر روی سرب یدید نشانده شد. نتیجه ی این دو مرحله لایه نشانی، قرار گرفتن یک لایه ی پروسکایت CH3NH3PbI3 بر روی لایه ی متخلخل TiO2 بود. برای رسیدن به یک سلول پایه ی بهینه، در مرحله ی دوم لایه نشانی، غوطه وری برای بازه های زمانی مختلفی انجام شد. مشخصه یابی های فوتوولتائیکی سلول، از قبیل بازده تبدیل توان، ضریب پرشدگی، ولتاژ مدار باز، چگالی جریان مدار کوتاه و... انجام گرفت و نتایج با یکدیگر مقایسه گردید تا مناسب ترین مدت زمان غوطه وری مشخص شود.
| بازنشر اطلاعات | |
|
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |








