|
مغناطومتر اتمی با تفکیک‌پذیری فضایی میکروسکوپی
|
| نجمه طریقی تابش1، ملیحه رنجبران1، محمدحسین خلخالی1، محمدمهدی طهرانچی*1 |
| 1- دانشگاه شهید بهشتی |
|
|
چکیده: (135 مشاهده) |
| مغناطومترهای اتمی در اندازه‌گیری‌های فوق دقیق مانند تصویربرداری‌های میکروسکوپی توجه بسیاری را به خود جلب کرده‌اند. در این تصویربرداری‌ها، به تفکیک‌پذیری فضایی بالا در کنار حساسیت بالا نیاز هست. در این مقاله روشی برای بهبود تفکیک‌پذیری فضایی یک مغناطومتر اتمی فوق حساس، بر پایه به‌کارگیری متمرکزکننده شار مغناطیسی ارائه شده است. بدین‌منظور با استفاده از نرم‌افزار آنالیز المان محدود، عملکرد متمرکزکننده-مغناطومتر بر تفکیک‌پذیری و حساسیت مورد بررسی قرار گرفته است. نتایج ما نشان می‌دهد که با استفاده از متمرکزکننده شار مغناطیسی نوک تیز که از ماده مغناطیسی نرم با نفوذپذیری مغناطیسی بالا ساخته شده است، می‌توان تفکیک‌پذیری فضایی را تا ابعاد میکروسکوپی افزایش داد. |
|
| واژه‌های کلیدی: تفکیک‌پذیری فضایی، حساسیت، مغناطومتر‌اتمی، متمرکزکننده‌های شارمغناطیسی، نفوذپذیری مغناطیسی. |
|
|
متن کامل [PDF 389 kb]
(24 دریافت)
|
|
نوع مطالعه: پژوهشي |
موضوع مقاله:
تخصصی
|
|
|
|
|
|
|
| ارسال نظر درباره این مقاله |
|
|
|
