[صفحه اصلی ]   [Archive] [ English ]  
:: جلد 25 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و پنجمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران ::
ICOP & ICPET سال25 صفحات 737-740 برگشت به فهرست نسخه ها
مطالعه مورفولوژی سطح و ارائه یک روش جدید برای محاسبه طول همبستگی
سعید دیانی*1، محمد حسین مهدیه1
1- دانشگاه علم و صنعت ایران
چکیده:   (122 مشاهده)
در این مطالعه، دو عامل مهم در تعیین مورفولوژی سطوح در ابعاد نانو با استفاده از کد نویسی در نرم افزار MATLAB و پردازش تصویر میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) اندازه گیری شده است. برای تعیین مورفولوژی سطح دو پارامتر انحراف از معیار پستی و بلندی نقاط مختلف (Rq) و طول همبستگی (correlation length) قله های سطح بسیار مهم هستند. به طور متداول از تابع خود همبستگی سطح برای محاسبه طول همبستگی استفاده می‌شود. در این مقاله روشی جدید برای محاسبه طول همبستگی سطح ارائه شده که قابل مقایسه با روش متداول است.
واژه‌های کلیدی: تابع خود همبستگی، طول همبستگی، مورفولوژی، میکروسکوپ نیروی اتمی، MATLAB
متن کامل [PDF 783 kb]   (24 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی
ارسال نظر درباره این مقاله
نام کاربری یا پست الکترونیک شما:

CAPTCHA


XML   English Abstract   Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Dayyani S, Mahdieh M H. Study of surface morphology and introducing a novel method to calculate correlation length. ICOP & ICPET. 2019; 25 :737-740
URL: http://opsi.ir/article-1-1776-fa.html

دیانی سعید، مهدیه محمد حسین. مطالعه مورفولوژی سطح و ارائه یک روش جدید برای محاسبه طول همبستگی . کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران و کنفرانس مهندسی و فناوری فوتونیک ایران. 1397; 25 () :737-740

URL: http://opsi.ir/article-1-1776-fa.html



جلد 25 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و پنجمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران برگشت به فهرست نسخه ها
انجمن اپتیک و فوتونیک ایران Optics and Photonics Society of Iran
Persian site map - English site map - Created in 0.05 seconds with 31 queries by YEKTAWEB 3961