اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1962 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 1 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 824 کاربر
- تمام بازدید‌ها: 21860910 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 35934 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
URL: http://opsi.ir/article-1-1309-fa.html
2- دانشگاه تهران
در این مقاله، زیرلایهی فوق حساس رامان تقویت یافتهی سطحی برپایهی نانو سیم های سیلیکونی لایه نشانی شده با نقره گزارش داده شده است. برای این منظور، نانو سیم‌های سیلیکونی با استفاده از روش بخار-مایع-جامد بر روی ویفر سیلیکونی ساخته و با استفاده از روش الکترولس لایه نشانی شده است. این روش امکان تشکیل نانوذرات نقرهی یکنواخت و در کنارهم فشرده را فراهم میسازد. ابتدا اثر زمان لایه نشانی نانوذرات نقره برای دستیابی به ماکسیم فاکتور تقویت سیگنال رامان مورد بررسی قرار گرفته است. در ادامه، قابلیت این نانوساختار برای تشخیص غلظتهای مختلف مورد ارزیابی قرار گرفت و کمترین حد آشکارسازی 10 پیکومولار با فاکتور تقویت 109×1.5 بدست آمد.
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
