اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1963 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 221 کاربر
- تمام بازدیدها: 22113645 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 22476 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:



URL: http://opsi.ir/article-1-1127-fa.html






2- دانشگاه بناب
در این مقاله اثر نانولایههای گرافن بر خواص تراگسیل یک بلور فوتونی یک بعدی حاوی نقص با استفاده از روش ماتریس انتقال مورد مطالعه قرار گرفته است. نشان داده شده است که دو نوع مد نقص در گاف باندهای ساختار ایجاد میشود، نوع اول مد نقص معمولی است که به علت شکست تناوب شبکه دی الکتریک در گاف باند براگ تشکیل میشود. نوع دیگر که در گاف باند القایی گرافن قابل مشاهده است ناشی از شکست تناوب شبکه گرافنی است. لذا مد نقص القایی گرافن نامگذاری شده است. هم چنین نتایج بیانگر این است که این مد نقص برخلاف مد نقص معمولی براگ فقط برای لایهی نقص عریض ظاهر میگردد و از آن جایی که گذردهی نانولایههای گرافن از طریق رسانندگی سطحی وابسته به پتانسیل شیمیایی گرافن است، فرکانس مد نقص القایی گرافن از طریق اعمال ولتاژ گیت قابل کنترل می-باشد.
بازنشر اطلاعات | |
![]() |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |