اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1962 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 96 کاربر
- تمام بازدیدها: 22002853 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 40049 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:



URL: http://opsi.ir/article-1-1049-fa.html
سامانههای لیزری پرقدرت به آینههای با آستانه آسیب بالا نیاز دارند. پوششهای چندلایهای که تحت تابش لیزری قوی قرار میگیرند، به دلیل جذب دچار آسیب میشوند. در این مقاله به مطالعهی توزیع میدان الکتریکی بین لایههای فیلم نازک که بین بستره و محیط فرودی به صورت متوالی قرار گرفتهاند، می-پردازیم. جذب تابش در هر نقطه بهطور مستقیم، متناسب با شدت میدان الکتریکی در آن نقطه است. هدف این مقاله بهینه کردن پارامترهای نوری در سطوح مشترک لایههای فیلم نازک با استفاده از تحلیل روش مکانیابی هدایت ظاهری است. ما سه روش برای طراحی آینه تمامبازتابان بیان میکنیم و از آن بین، بهترین روش را مشخص مینماییم و با استفاده از این روش آینههای تمامدیالکتریک و فلز-دیالکتریک تمام بازتابان را طراحی میکنیم.
بازنشر اطلاعات | |
![]() |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |