اشتراک در خبرنامه

لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.


آمار سایت

  • کل کاربران ثبت شده: 1943 کاربر
  • کاربران حاضر در وبگاه: 1 کاربر
  • میهمانان در حال بازدید: 1303 کاربر
  • تمام بازدید‌ها: 21202404 بازدید
  • بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 61050 بازدید

کنفرانس های انجمن 



 

استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.

جلد ۲۱ - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و یکمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال۲۱ صفحات ۱۴۷۶-۱۴۷۳ | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Jafari Siavashani M, Tavassoly M T, Ahadi Akhlaghi E, Hosseini S R. Measuring refractive index and thickness of transparent thin films using Fresnel diffraction from phase step. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2015; 21 :1473-1476
URL: http://opsi.ir/article-1-647-fa.html
جعفری سیاوشانی مرتضی، توسلی محمد تقی، احدی اخلاقی احسان، حسینی سید روح الله. اندازه‌گیری ضریب‌شکست و ارتفاع لایه‌های نازک شفاف با استفاده از پراش فرنل از پله فازی. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. ۱۳۹۳; ۲۱ () :۱۴۷۳-۱۴۷۶

URL: http://opsi.ir/article-۱-۶۴۷-fa.html


۱- دانشگاه تحصیلات تکمیلی در علوم پایه زنجان
۲- دانشگاه تهران
۳- دانشگاه تحصیلات
چکیده:   (۴۰۴۸ مشاهده)
تعیین دقیق ثابت‌های نوری لایه‌های نازک، از چالش‌های موجود در علوم و صنایع مدرن به حساب می‌آید. در این مقاله روشی جدید برای به‌دست آوردن ضریب‌شکست و ضخامت لایه‌های نازک دی‌الکتریک، ارائه داده‌ایم. این روش بر پراش فرنل از پله فازی عبوری استوار است. با ثبت نقش پراش پله فازی در زوایای مختلف فرودی و تحلیل آن‌ها، نمودار نمایانی بر حسب زاویه فرود به‌دست می‌آید. ضریب‌شکست و ارتفاع، از طریق برازش داده‌های شبیه‌سازی شده به منحنی تجربی (نمایانی بر حسب زاویه فرودی) تعیین می‌شوند. با استفاده از این روش، دقت اندازه‌گیری ضریب شکست و ضخامت لایه‌های نازک میکرومتری به ترتیب 0.5 و 0.1 درصد است.
متن کامل [PDF 511 kb]   (۱۱۳۴ دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

ارسال پیام به نویسنده مسئول


بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به انجمن اپتیک و فوتونیک ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2025 All Rights Reserved | Optics and Photonics Society of Iran

Designed & Developed by : Yektaweb