1- دانشگاه شاهرود
چکیده: (1826 مشاهده)
- در این تحقیق لایههای نازک سولفید مس بر روی زیرلایه شیشه و ITO به روش حمام شیمیایی تهیه شدند. تصاویر FESEM نشانگر تاثیر زیر لایه بر موفولوژی و تغییر اندازه ریز دانه ها بوده به طوری که ابعاد میانگین آنها از 80 تاnm 150 تغییر یافته است. مشخصه یابی ساختاری آنها حاصل از طیف نگاری XRD بیانگر ساختار آمورف در هر دو لایه است. تحلیل خواص اپتیکی نشان می دهد که گاف نواری اپتیکی لایه ها تحت تاثیر محدودیت کوانتومی، به ترتیب، از حدود 11/2 بهev 01/2 تغییر کرده اند.
نوع مطالعه:
پژوهشي |
موضوع مقاله:
تخصصی