برقراری ارتباط
جلد 21 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و یکمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال21 صفحات 872-869 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
kasra N, esmaeeli F, Falahatgar S, etemadi B. Determination of the optical constants for Cerium-doped Vanadium pentoxide thin film from reflectance spectra. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2015; 21 :869-872
URL: http://opsi.ir/article-1-736-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-736-fa.html
کسری نجمه، اسمعیلی فرهاد، فلاحتگر سارا، اعتمادی بابک. مشخصه یابی اپتیکی فیلم های نازک وانادیم پنتا اکسید آلاییده شده با سریم با استفاده از طیف بازتاب . مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1393; 21 () :869-872
نجمه کسری1 
، فرهاد اسمعیلی* 1، سارا فلاحتگر1 ، بابک اعتمادی1
، فرهاد اسمعیلی* 1، سارا فلاحتگر1 ، بابک اعتمادی1
1- دانشگاه گیلان
چکیده: (3341 مشاهده)
در پژوهش حاضر، محاسبه ضخامت و ثابت‌های اپتیکی فیلم‌های نازک پنتا اکسید وانادیم آلاییده شده با سریم تهیه شده به روش سل ژل روی بستر شیشه با استفاده از تک طیف بازتاب ارائه شده است. برای دستیابی به برازش مناسب طیف بازتاب از مدل کلاسیکی درود لورنتز برای تابع دی الکتریک پارامتری استفاده شده است. بهترین پارامترهای برازشی جهت شبیه سازی طیف بازتاب با روش بهینه سازی لونبرگ-مارکوارت تعیین شده است. بازتابندگی شبیه سازی شده از ثابت های اپتیکی و ضخامت بازیابی شده در توافق خوبی با داده های تجربی هستند.
ارسال پیام به نویسنده مسئول
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
