حمایت از انجمن


برای حمایت لطفا روی بخش پایین کلیک کنید.
 
حمایت مالی از انجمن اپتیک و فوتونیک ایران
جلد 24 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و چهارمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال24 صفحات 176-173 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Deljoor M, Mozdoor dashtabi M, Massudi R. Resolution enhancement of confocal laser scanning microscopy by detection pinhole axial modulation technique. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2018; 24 :173-176
URL: http://opsi.ir/article-1-1538-fa.html
دلجور محمد، مزدور دشتابی مهدی، مسعودی رضا. بهبود توان تفکیک میکروسکوپی جاروب لیزری هم‌کانون با روش مدولاسیون محوری روزنه‌ی آشکارسازی. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1396; 24 () :173-176

URL: http://opsi.ir/article-1-1538-fa.html


1- دانشگاه شهید بهشتی
چکیده:   (2134 مشاهده)
 با ابداع میکروسکوپی هم‌کانون، علاوه بر اینکه توان تفکیک افزایش یافت، تصویربرداری سه بعدی از نمونه‌های ضخیم با پراکندگی بالا نیز ممکن گردید. در این مقاله، یک روش پردازش آنی داده‌برداری، با استفاده از مدولاسیون محوری روزنه‌ی آشکارساز متصل به یک تقویت کننده‌ی قفل‌شونده، به منظور افزایش توان تفکیک محوری در یک میکروسکوپ ‌ جاروب لیزری هم‌کانون ، معرفی شده است. به علاوه، این روش برش‌نگاری نوری را بهبود بخشیده و همچنین ابهام در مکان‌یابی نمونه (در بالا یا پایین صفحه‌ی جاروب)، موجود در میکروسکوپی هم‌کانون مرسوم را برطرف می‌کند.
 
متن کامل [PDF 783 kb]   (806 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.

کلیه حقوق این وب سایت متعلق به انجمن اپتیک و فوتونیک ایران می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2024 All Rights Reserved | Optics and Photonics Society of Iran

Designed & Developed by : Yektaweb