<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<journal>
<title>Accepted and Presented Articles of OPSI Conferences</title>
<title_fa>مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران</title_fa>
<short_title>ICOP &amp; ICPET _ INPC _ ICOFS</short_title>
<subject>Basic Sciences</subject>
<web_url>http://opsi.ir</web_url>
<journal_hbi_system_id>1</journal_hbi_system_id>
<journal_hbi_system_user>admin</journal_hbi_system_user>
<journal_id_issn>1126-3278</journal_id_issn>
<journal_id_issn_online>10</journal_id_issn_online>
<journal_id_pii>8</journal_id_pii>
<journal_id_doi>7</journal_id_doi>
<journal_id_iranmedex></journal_id_iranmedex>
<journal_id_magiran></journal_id_magiran>
<journal_id_sid>14</journal_id_sid>
<journal_id_nlai>8888</journal_id_nlai>
<journal_id_science>13</journal_id_science>
<language>fa</language>
<pubdate>
	<type>jalali</type>
	<year>1392</year>
	<month>10</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<pubdate>
	<type>gregorian</type>
	<year>2014</year>
	<month>1</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<volume>20</volume>
<number>مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران</number>
<publish_type>online</publish_type>
<publish_edition>1</publish_edition>
<article_type>fulltext</article_type>
<articleset>
	<article>


	<language>fa</language>
	<article_id_doi></article_id_doi>
	<title_fa>سونش تر ویفر گالیم آرسناید در محلول فسفریک اسید، هیدروژن پراکساید و متانول</title_fa>
	<title>Wet etching of GaAs wafers by phosphoric acid, hydrogen peroxide and methanol solution</title>
	<subject_fa>تخصصی</subject_fa>
	<subject>Special</subject>
	<content_type_fa>پژوهشي</content_type_fa>
	<content_type>Research</content_type>
	<abstract_fa>
سونش شیمیایی تر یکی از پرکاربردترین روشهای سونش در صنعت ساخت ادوات اپتوالکترونیکی مانند لیزر نیمه‌هادی است که توسط محلولهای شیمیایی انجام می‌شود. در این پژوهش ویفر گالیم آرسناید جهت ساخت لیزر نیمه‌هادی توسط محلول سونشی متشکل از اسید فسفریک، پراکساید هیدروژن و متانول به روش غوطه‌وری و در دمای 0 تا 4 درجه سلسیوس مورد سونش قرار گرفت که نتیجه آن پس از بررسی با دستگاه پروفایلر سطح یک سونش غیر همسانگرد با مقطع عرضی U شکل و عمق 4600 آنگستروم بود. همچنین صافی سطح برابر 17/4 آنگستروم را ایجاد نمود که مناسب و قابل قبول بوده است. همچنین کنترل فرآیند سونش بعلت استفاده از متانول در دمای پایین بسیار آسان وکنترل پذیر است.</abstract_fa>
	<abstract>
Wet chemical etching is one of the extensively process in the fabrication of optoelectronic devices such as semiconductor lasers. In this paper the GaAs wafer etched in phosphoric acid/ hydrogen peroxide/ methanol solution at 0-4°C by dipping. The results of this experiment were studied by Dek Tak surface profile meter that shows U anisotropic etching, depth 4600 A°, roughness about 17.4 A°. Presence of methanol in the etchant results in easy and controllable etching process. </abstract>
	<keyword_fa>سونش تر, ویفرگالیم آرسناید , پراکساید هیدروژن, لیزر نیمه‌هادی. </keyword_fa>
	<keyword>Wet etching, GaAs wafer, Hydrogen peroxide, Semiconductor laser.</keyword>
	<start_page>1545</start_page>
	<end_page>1548</end_page>
	<web_url>http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-69&amp;slc_lang=fa&amp;sid=1</web_url>


<author_list>
	<author>
	<first_name>Ali</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Parnia baran</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>علی</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>پرنیاباران</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email>a.parniabaran@googlemail.com</email>
	<code>10031947532846002540</code>
	<orcid>10031947532846002540</orcid>
	<coreauthor>Yes
</coreauthor>
	<affiliation>Iranian National Center for laser science and technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>S. Peyman</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Abbasi</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>سید پیمان</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>عباسی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email>pabbasi2001@gmail.com</email>
	<code>10031947532846002541</code>
	<orcid>10031947532846002541</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Iranian National Center for laser science and technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>Behrang</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Sabrlouy</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>بهرنگ</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>صبرلوی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email>behrangsabrlouie@gmail.com</email>
	<code>10031947532846002542</code>
	<orcid>10031947532846002542</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Iranian National Center for laser science and technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


</author_list>


	</article>
</articleset>
</journal>
