fa بررسی خواص نوری لایه های نازک اکسید ایندیوم آلاییده با قلع با استفاده از روش کرامرز-کرونیگ تخصصی Special پژوهشي Research اندازه گیری ضرایب اپتیکی (ضرایب شکست و خاموشی) از جمله مباحث مهم لایه های نازک است. روشهای متعددی وجود دارند که می توان بوسیله آنها ضرایب اپتیکی را اندازه گیری کرد. از جمله این روش ها می توان روش کرامرز-کرونیگ را نام برد. در این مقاله با استفاده از این روش ضرایب اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم آلاییده با قلع که در ضخامت های 134،145و290 نانومتر به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیر لایه شیشه ای و در شرایط یکسان تهیه شده اند را بررسی می کنیم. The measurement of optical constants(indices of refraction and extinction) of thin films is an important issue. There are several methods that can be measured by their optical coefficients .Kramers-Kronig method in cluding these techniques can be named. In this paper, using this method,optical constants of Indium Tin Oxide (ITO) thin films with thicknesses of 134,145and 290 nm which prepared by electron-beam evaporation method on glasssubstrate same conditions were investigated. کرامرز-کرونیک, ضرایب اپتیکی, اکسید ایندیم Kramers-Kronig, Optical constants, Indium Tin Oxide 93 96 http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-448&slc_lang=fa&sid=1 Davood Rauofi داود رئوفی d_raoufi@ymail.com 10031947532846002757 10031947532846002757 No Physical Department, Faculty of Science, Bu-Ali Sina University دانشگاه بوعلی سینا دانشکده علوم Ali Jamshidi علی جمشیدی alijamshidi914@gmail.com 10031947532846002758 10031947532846002758 Yes Physical Department, Faculty of Science, Bu-Ali Sina University دانشگاه بوعلی سینا دانشکده علوم