<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<journal>
<title>Accepted and Presented Articles of OPSI Conferences</title>
<title_fa>مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران</title_fa>
<short_title>ICOP &amp; ICPET _ INPC _ ICOFS</short_title>
<subject>Basic Sciences</subject>
<web_url>http://opsi.ir</web_url>
<journal_hbi_system_id>1</journal_hbi_system_id>
<journal_hbi_system_user>admin</journal_hbi_system_user>
<journal_id_issn>1126-3278</journal_id_issn>
<journal_id_issn_online>10</journal_id_issn_online>
<journal_id_pii>8</journal_id_pii>
<journal_id_doi>7</journal_id_doi>
<journal_id_iranmedex></journal_id_iranmedex>
<journal_id_magiran></journal_id_magiran>
<journal_id_sid>14</journal_id_sid>
<journal_id_nlai>8888</journal_id_nlai>
<journal_id_science>13</journal_id_science>
<language>fa</language>
<pubdate>
	<type>jalali</type>
	<year>1392</year>
	<month>10</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<pubdate>
	<type>gregorian</type>
	<year>2014</year>
	<month>1</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<volume>20</volume>
<number>مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران</number>
<publish_type>online</publish_type>
<publish_edition>1</publish_edition>
<article_type>fulltext</article_type>
<articleset>
	<article>


	<language>fa</language>
	<article_id_doi></article_id_doi>
	<title_fa>بررسی ساختاری و بهینه سازی تنش پسماند نانولایه کروم بر روی زیرلایه های شیشه و گالیم آرسناید </title_fa>
	<title>Structure investigation and residual stress optimization of Cr nanolayer on glass and GaAs substrates </title>
	<subject_fa>تخصصی</subject_fa>
	<subject>Special</subject>
	<content_type_fa>پژوهشي</content_type_fa>
	<content_type>Research</content_type>
	<abstract_fa>در این مقاله زبری سطح، آهنگ انباشت و تنش پسماند لایه نازک کروم بر زیرلایه‌های شیشه و گالیم آرسناید به کمک آنالیزهای AFM، ضخامت‌سنجی و روش انحنای زیرلایه مورد بررسی قرار گرفته است. بدین منظور لایه کروم با ضخامت‌های 120-40 نانومتر به روش کندوپاش رادیو فرکانسی بر زیرلایه‌های مذکور لایه‌نشانی شد. نتایج نشان می‌دهد آهنگ انباشت و زبری سطح لایه کروم روی شیشه بیشتر از گالیم‌ آرسناید است و در هر دو زیرلایه با افزایش ضخامت، زبری سطح افزایش می‌یابد. همچنین ضخامت بهینه تنش پسماند برای زیرلایه گالیم‌ آرسناید 58 نانومتر و برای شیشه 62 نانومتر بدست آمد.</abstract_fa>
	<abstract>In this study surface roughness, deposition rate and residual stress of Cr thin film on glass and GaAs substrates were investigated by AFM analysis, thickness measurement and substrate curvature method. For this aim Cr layer with different thicknesses, 40-120 nm, was deposited on mentioned substrates by RF sputtering. Results show that deposition rate and surface roughness of Cr layer on glass is more than GaAs and on both substrates by increasing thickness, roughness increases. Also optimized thickness for residual stress obtained at 58 nm for GaAs substrate and at 62 nm for glass.</abstract>
	<keyword_fa> آهنگ انباشت, تنش پسماند, زبری سطح, کروم.</keyword_fa>
	<keyword>Cr, deposition rate, residual stress, roughness.</keyword>
	<start_page>1053</start_page>
	<end_page>1056</end_page>
	<web_url>http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-402&amp;slc_lang=fa&amp;sid=1</web_url>


<author_list>
	<author>
	<first_name>mahdie</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>parvizian</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>مهدیه</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>پرویزیان</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email>mahdieparvizian@yahoo.com</email>
	<code>10031947532846001414</code>
	<orcid>10031947532846001414</orcid>
	<coreauthor>Yes
</coreauthor>
	<affiliation>Iranian National Center for Laser Science and technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>fariba</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>rahimi ashtari</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>فریبا</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>رحیمی اشتری</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email>dokfaraher@yahoo.com</email>
	<code>10031947532846001415</code>
	<orcid>10031947532846001415</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Iranian National Center for Laser Science and technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>amir</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>goodarzi</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>امیر</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>گودرزی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email>amir.goodarzi@gmail.com</email>
	<code>10031947532846001416</code>
	<orcid>10031947532846001416</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Iranian National Center for Laser Science and technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>behrang</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>sabrlouie</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>بهرنگ</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>صبرلوی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email>behrangsabrlouie@gmail.com</email>
	<code>10031947532846001417</code>
	<orcid>10031947532846001417</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Iranian National Center for Laser Science and technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>peyman</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>abbasi</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>پیمان</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>عباسی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email>pabbasi2001@gmail.com</email>
	<code>10031947532846001418</code>
	<orcid>10031947532846001418</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Iranian National Center for Laser Science and technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


</author_list>


	</article>
</articleset>
</journal>
