fa بررسی ویژگی های نوری اکسیدمس تهیه شده به روش اسپاترینگ مگنترونی با استفاده از طیف بازتابی و عبوری تخصصی Special پژوهشي Research در این پژوهش، لایه‌های نازک اکسیدمس به روش کندوپاش واکنشی مغناطیسی RF روی زیرلایه‌های شیشه‌ای در توان‌های مختلف نهشته شده‌اند. پراش اشعه‌ی ایکس(XRD)، و اسپکتروفوتومتر به ترتیب برای توصیف خواص ساختاری و خواص نوری لایه‌ها به‌کار رفته‌اند. نتایج نشان می‌دهد که با افزایش توان، فاز اکسیدمس از CuO به Cu2O تغییر پیدا می‌کند همچنین اندازه‌ی ریزبلورک‌ها افرایش یافته است. ضریب شکست، ضریب جذب، ضریب خاموشی و گاف انرژی نیز با استفاده از طیف سنجی محاسبه شده است. In the present experimental work, Copper Oxide thin films were deposited by reactive radio frequency magnetron sputtering on glass substrates at various power and under the same conditions. Effect of changing the power on structural and electrical properties of the layers were studied. The structural properties, and optical properties of the copper Oxide films are investigated by X-ray Diffraction (XRD), and UV-IR Spectroscopy techniques respectively. It was observed with increasing power, Copper Oxide phase changes from CuO to Cu2O. Optical properties also are obtained. اسپکتروفوتومتر, کندوپاش واکنشی مغناطیسی, گاف انرژی, لایه نازک. : Band gap, Reactive Magnetron Sputtering, Thin film, UV-IR Spectroscopy. 1193 1196 http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-380&slc_lang=fa&sid=1 saeed behaein سعید به آیین s.behaein@gmail.com 10031947532846001496 10031947532846001496 Yes maryam mahmoudi ghalvadi مریم محمودی قالوندی mahmoudi.ghalvandi@yahoo.com 10031947532846001497 10031947532846001497 No alireza razeghizadeh علی رضا رازقی زاده razeghizadeh@yahoo.com 10031947532846001498 10031947532846001498 No esmaeil pakizeh اسماعیل پاکیزه Esmaeil_pakizeh@yahoo.com 10031947532846001499 10031947532846001499 No