Accepted and Presented Articles of OPSI Conferences
مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانسهای انجمن اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS
Basic Sciences
http://opsi.ir
1
admin
1126-3278
10
8
7
14
8888
13
fa
jalali
1396
12
1
gregorian
2018
3
1
24
مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و چهارمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
online
1
fulltext
fa
اندازهگیری ضریبشکست گروه و ضخامت نمونه به صورت همزمان با استفاده از مقطعنگار همدوس نوری طیفی
Simultaneous thickness and group index measurement with Spectral Domain Optical Coherence Tomography
تخصصی
Special
پژوهشي
Research
<div style="text-align: justify;"><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">مقطعنگار همدوس نوری روشی نوین، غیرمخرب و با سرعت داده</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">برداری بالا در تصویربرداری است که با بهره</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">گیری از روش تداخل</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">سنجی همدوس جزئی، لایه</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">های مختلف نمونه را شناسایی می</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">کند</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">. </span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">در این مقاله با استفاده از چینش مقطع</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">نگار همدوس نوری طیفی با چشمه</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">ی نور مرئی که دارای تفکیک</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">پذیری محوری </span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">1 </span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">میکرومتر است، روشی برای اندازه</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">گیری ضریبشکست گروه لایه</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">های نازک چندلایه</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">ای ارائه شده است</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">. </span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">این روش میتواند بهطور همزمان ضریبشکست گروه و ضخامت لایههای نازک را تعیین کند</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">. </span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">با استفاده از این روش</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">،</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;"> ضریبشکست لایه</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">ی نازک تا دو رقم اعشار و ضخامت لایه</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">­</span></span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-size:10.0pt;">ی نازک با دقت یک میکرومتر قابل تعیین است</span></span></strong><strong><span style="font-style:normal;"><span style="font-family:b nazanin;"><span style="font-size:10.0pt;">.</span></span></span></strong></div>
<p class="AbstractEnglish">Optical Coherence Tomography is a new, non-destructive method based on low coherence interferometry that can identify different layers of a sample with high speed. In this article, we present a method based on spectral domain optical coherence tomography with visible light source that can measure group refractive index and thickness of multilayer samples simultaneously with 1 micrometer axial resolution. The results obtained uncertainties in the second decimal place for index value and thickness accurate to within 1 micrometer.<!--stripped--><!--stripped--></p>
تداخلسنجی همدوس جزئی, ضریبشکست, مقطعنگاری همدوس نوری طیفی, ضخامت سنجی.
Low Coherence Interferometry, Refractive Index, Spectral Domain Optical Coherence Tomography, Thickness Measurement.
61
64
http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-1472&slc_lang=fa&sid=1
Pooria
Omidi
پوریا
امیدی
10031947532846006647
10031947532846006647
Yes
Department Physics, Institute for Advanced Studies in Basic Sciences (IASBS)
دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان
Arsham
Hamidi
آرشام
حمیدی
10031947532846006648
10031947532846006648
No
Department Physics, Institute for Advanced Studies in Basic Sciences (IASBS)
دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان
Ehsan
Ahadi Akhlaghi
احسان
احدی اخلاقی
10031947532846006649
10031947532846006649
No
Department Physics, Institute for Advanced Studies in Basic Sciences (IASBS)
دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان