TY - JOUR T1 - Determination of the optical constants for Cerium-doped Vanadium pentoxide thin film from reflectance spectra TT - مشخصه یابی اپتیکی فیلم های نازک وانادیم پنتا اکسید آلاییده شده با سریم با استفاده از طیف بازتاب JF - opsi JO - opsi VL - 21 IS - 0 UR - http://opsi.ir/article-1-736-fa.html Y1 - 2015 SP - 869 EP - 872 KW - Thin film V2O5 KW - Reflectance KW - optimization KW - dielectric function N2 - در پژوهش حاضر، محاسبه ضخامت و ثابت‌های اپتیکی فیلم‌های نازک پنتا اکسید وانادیم آلاییده شده با سریم تهیه شده به روش سل ژل روی بستر شیشه با استفاده از تک طیف بازتاب ارائه شده است. برای دستیابی به برازش مناسب طیف بازتاب از مدل کلاسیکی درود لورنتز برای تابع دی الکتریک پارامتری استفاده شده است. بهترین پارامترهای برازشی جهت شبیه سازی طیف بازتاب با روش بهینه سازی لونبرگ-مارکوارت تعیین شده است. بازتابندگی شبیه سازی شده از ثابت های اپتیکی و ضخامت بازیابی شده در توافق خوبی با داده های تجربی هستند. M3 ER -