RT - Journal Article T1 - Structural and optical properties of CuFeO2 thin films produced by chemical solution deposition JF - opsi YR - 2014 JO - opsi VO - 20 IS - 0 UR - http://opsi.ir/article-1-147-fa.html SP - 249 EP - 252 K1 - CuFeO2 K1 - thin film K1 - chemical solution deposition K1 - transparent oxide semiconductor AB - چکیده – لایه نازک CuFeO2 روی زیرلایه کوآرتز با استفاده از روش محلول شیمیایی و تکنیک لایه نشانی چرخشی تهیه شد و خواص ساختاری و الکترواپتیکی آن پس از بازپخت در گاز آرگون در دمای C‏ °750 مورد بررسی قرار گرفت .فازهای تشکیل شده با استفاده از پراش اشعه ایکس مشخص شدند. تراگسیل در بازه ی مرئی و گاف انرژی مستقیم CuFeO2 با استفاده از نتایج طیف تراگسیلی به ترتیب ٪55-30 وeV 3/2 بدست آمد. با استفاده از اندازه‌گیری اثر هال، رسانایی الکتریکی و چگالی حاملهای بار به ترتیب S/cm 2-10×87/3 وcm-3 1017×4/1 بدست آمد. LA eng UL http://opsi.ir/article-1-147-fa.html M3 ER -