برقراری ارتباط
جلد 21 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و یکمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال21 صفحات 780-777 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
Ganjkhani Y, Tavassoli M T, Hosseini S R, Jafari Siavashani M, Koohian A. Thickness measurement using the extrema of the intensity profile in Fresnel diffraction from a phase step. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2015; 21 :777-780
URL: http://opsi.ir/article-1-711-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-711-fa.html
گنج خانی یاسمن، توسلی محمدتقی، حسینی روح الله، جعفری سیاوشانی مرتضی، کوهیان عطاءالله. اندازه گیری ضخامت لایه نازک با استفاده از فاصله فرینه های توزیع شدت از هم در نقش پراش فرنل از پله فازی. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1393; 21 () :777-780
1- دانشگاه تهران
2- دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان
2- دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم پایه زنجان
چکیده: (4078 مشاهده)
توزیع شدت و فاصلههای فرینه های آن در نقش پراش فرنل
از پله به ارتفاع پله و زاویه فرود نور بستگی دارد.این بستگی جهانی است و با داشتن
نمودارهای نظری فواصل فرینه های شدت بر حسب فاز می توان فاز ناشی از پله و ارتفاع
آن را با دقت قابل توجهی تعیین کرد. با استفاده از این نمودارها و مقایسه آنها با داده های
تجربی حاصل از نقش پراش چندین پله با ارتفاع های مختلف، فاز ناشی از پله ها و ضخامت آنها را با دو طول موج
532 و 632.8 نانومتر اندازه گرفتیم. عدم قطعیت در اندازه گیری ها کمتر از چند
نانومتر است.
ارسال پیام به نویسنده مسئول
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
