برقراری ارتباط
جلد 21 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و یکمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال21 صفحات 1476-1473 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
Jafari Siavashani M, Tavassoly M T, Ahadi Akhlaghi E, Hosseini S R. Measuring refractive index and thickness of transparent thin films using Fresnel diffraction from phase step. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2015; 21 :1473-1476
URL: http://opsi.ir/article-1-647-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-647-fa.html
جعفری سیاوشانی مرتضی، توسلی محمد تقی، احدی اخلاقی احسان، حسینی سید روح الله. اندازه‌گیری ضریب‌شکست و ارتفاع لایه‌های نازک شفاف با استفاده از پراش فرنل از پله فازی. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1393; 21 () :1473-1476
1- دانشگاه تحصیلات تکمیلی در علوم پایه زنجان
2- دانشگاه تهران
3- دانشگاه تحصیلات
2- دانشگاه تهران
3- دانشگاه تحصیلات
چکیده: (3610 مشاهده)
تعیین دقیق ثابت‌های نوری لایه‌های نازک، از چالش‌های موجود در علوم و صنایع مدرن به حساب می‌آید. در این مقاله روشی جدید برای به‌دست آوردن ضریب‌شکست و ضخامت لایه‌های نازک دی‌الکتریک، ارائه داده‌ایم. این روش بر پراش فرنل از پله فازی عبوری استوار است. با ثبت نقش پراش پله فازی در زوایای مختلف فرودی و تحلیل آن‌ها، نمودار نمایانی بر حسب زاویه فرود به‌دست می‌آید. ضریب‌شکست و ارتفاع، از طریق برازش داده‌های شبیه‌سازی شده به منحنی تجربی (نمایانی بر حسب زاویه فرودی) تعیین می‌شوند. با استفاده از این روش، دقت اندازه‌گیری ضریب شکست و ضخامت لایه‌های نازک میکرومتری به ترتیب 0.5 و 0.1 درصد است.
ارسال پیام به نویسنده مسئول
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
