جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال20 صفحات 932-929 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


1- دانشگاه علم و صنعت
چکیده:   (6577 مشاهده)
چکیده – در این تحقیق خواص ساختاری و اپتیکی لایه‌های نازک اکسید روی تهیه شده به روش سل-ژل مورد بررسی قرار گرفت. نمونه‌ها بعد از سه بار لایه نشانی در دماهای مختلف بازپخت شدند. با استفاده از خطوط پراش پرتوهای X و تحلیل پهن شدگی آنها، اندازه بلورکها و چگالی دررفتگی لایه‌های ZnO استخراج شدند. همچنین مورفولوژی نمونه‌ها نیز با استفاده از تصاویر SEM مورد بررسی قرار گرفت. گاف انرژی نمونه‌ها از طریق طیف گذار بدست آمد، و ارتباط بین لبه جذب نمونه‌ها در طیف جذبی با نتایج بدست آمده از تحلیل خطوط پراش و مورفولوژی آنها مورد بررسی قرار گرفت.
متن کامل [PDF 920 kb]   (1461 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.