جلد 20 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیستمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال20 صفحات 512-509 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


چکیده:   (4842 مشاهده)
چکیده - در این تحقیق برای تهیه لایه‏های نازک دی‏اکسید تیتانیوم به روش غوطه‏وری و چرخشی از نانوذرات تیتانیم دی‏اکسید تهیه شده با روش رسوب از نمک فلزی استفاده شد. برای مشخصه‌یابی ساختاری، مورفولوژی و نوری نانوذرات و لایه‌های تهیه شده از دستگاه‏های XRD، SEM و UV- VIS استفاده شد. طیف XRD تشکیل نانوذرات تیتانیم دی اکسید در فاز روتایل را نشان می‌دهد و تصویر SEM نشان می‏دهد که ذرات کروی شکل بوده و اندازه آن‏ها در حد 58 نانومتر است. در نهایت با استفاده از داده‏های طیف عبوری UV- VIS مقدار گاف نواری مستقیم لایه‏های تهیه شده eV 84/3 بدست آمد.
متن کامل [PDF 508 kb]   (1742 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.