جلد 25 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و پنجمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال25 صفحات 740-737 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


1- دانشگاه علم و صنعت ایران
چکیده:   (1644 مشاهده)
در این مطالعه، دو عامل مهم در تعیین مورفولوژی سطوح در ابعاد نانو با استفاده از کد نویسی در نرم افزار MATLAB و پردازش تصویر میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) اندازه گیری شده است. برای تعیین مورفولوژی سطح دو پارامتر انحراف از معیار پستی و بلندی نقاط مختلف (Rq) و طول همبستگی (correlation length) قله های سطح بسیار مهم هستند. به طور متداول از تابع خود همبستگی سطح برای محاسبه طول همبستگی استفاده می‌شود. در این مقاله روشی جدید برای محاسبه طول همبستگی سطح ارائه شده که قابل مقایسه با روش متداول است.
متن کامل [PDF 783 kb]   (387 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.