جلد 24 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و چهارمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال24 صفحات 156-153 |
برگشت به فهرست نسخه ها
نیره دررودی* 
1، حسین عشقی1
1، حسین عشقی1
1- دانشگاه صنعتی شاهرود
چکیده: (1980 مشاهده)
در این تحقیق لایههای نازک اکسید وانادیم در دماهای مختلف زیرلایه (C˚300، C˚350 و C˚400) به روش اسپری پایرولیز رشد داده شدند. تصاویر SEM نشان میدهد که با افزایش دمای زیرلایه تراکم و ابعاد نانو دانهها از 50 به nm 100 افزایش یافته است. همچنین آنالیز دادههای EDX وجود عناصر اکسیژن و وانادیوم در لایهها را تایید کرده به طوری که با افزایش دمای رشد تهی جاهای اکسیژن نیز بیشتر شده است. نتایج XRD حاکی از آن است که نمونهها از فاز آمورف (در دمای رشد Cº 300) به ساختار اورتورومبیک بسبلوری با جهتگیری ترجیحی (001) در دماهای بالاتر تغییر یافته اند. تحلیل طیف های جذب اپتیکی نشان داد با افزایش دمای زیرلایه، گاف نواری مستقیم نمونهها از 59/2 به eV 41/2 کاهش یافته است. این تغییرات به خوبی با توجه به دادههای EDX و همچنین I-V، مبتنی بر تغییرات پهنای دنباله نواری در این نمونهها، سازگار است.
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |