جلد 23 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و سومین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران                   ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال23 صفحات 540-537 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print

ضخامت سنجی لایه های شفاف بر پایه روش مقطع نگاری همدوس نوری توسط منبع نور با طول همدوسی کم
فاطمه گرگان نژاد* 1، آتوسا سادات عربانیان1 ، رضا مسعودی
1- پژوهشکده لیزر و پلاسما
چکیده:   (2774 مشاهده)

روش مقطع نگاری همدوس نوری (OCT) در محدوده زمانی به عنوان یک روش غیرتماسی و غیر مخرب برای ضخامت سنجی مواد مختلف شفاف بکار گرفته می شود. این روش به دلیل استفاده از تداخل سنجی توسط یک منبع نور با پهنای باند وسیع و طول همدوسی کم، دارای قدرت تفکیک محوری بالا و دقت کافی می باشد. در این مقاله به طور تجربی نشان خواهیم داد که روش مقطع نگاری همدوس نوری می تواند به عنوان یک روش دقیق جهت اندازه گیری ضخامت لایه های شفاف میکرونی نظیرکریستال دوشکستی لیتیوم نیوبات (LiNbo3 ) و پلیمر پلی استیرن سولفونات اسید (PSSA)، مورد استفاده قرار گیرد.

واژه‌های کلیدی: مقطع نگاری همدوس نوری، منبع نور پهن باند، طول همدوسی، ضخامت سنجی
متن کامل [PDF 585 kb]   (1190 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصی
بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.