چکیده-در این تحقیق لایه های نازک اکسید تنگستن بر روی زیرلایه رسانای شفاف FTO با حجم های مختلف 40 و ml 60 به روش اسپری پایرولیز تهیه شدند. تصاویر SEM نشانگر تشکیل دانه هایی با ابعاد نانومتری nm 100 و کمتر بوده و با افزابش حجم محلول دانه ها کوچکتر و فشرده تر شده اند. طیف های XRD لایه ها حاکی از ساختار آمورف در هر دو نمونه می باشد. اندازه گیری های وابسته به خواص الکتروکرومیکی نمونه ها نشانگر کیفیت بالاتر نمونه با حجم محلول ml40 نسبت به نمونه ml60 است. این امر می تواند ناشی از میزان تخلخل و زبری سطح بیشتر در این نمونه باشد.